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測試探針

XQY-SMAK-TTT129Z

【產(chǎn)品名稱】精密高頻測試探針

【外殼】黃銅鍍金

【測試類型】射頻開關(guān)座一代

【頻率范圍】DC-11GHz

【外形尺寸】30.4*16*5.6mm

【定制服務】特殊尺寸、接頭類型、材質(zhì)、頻率范圍均可定制

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應用領(lǐng)域

應用于半導體、通信、航空航天、汽車電子及醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域的高頻信號測試與性能驗證。